β射線測(cè)厚儀在鍍層/薄膜在線檢測(cè)中，主要依托穿透式與反向散射式兩種物理原理實(shí)現(xiàn)非接觸式動(dòng)態(tài)測(cè)量。其核心機(jī)制基于β射線與物質(zhì)相互作用時(shí)的衰減特性，結(jié)合比爾-朗伯定律（J=J?e^(-μρt)）或康普頓散射效應(yīng)，通過檢測(cè)射線強(qiáng)度變化推算材料厚度。

　　穿透式測(cè)量原理

　　適用于基材與鍍層/薄膜復(fù)合結(jié)構(gòu)的在線監(jiān)測(cè)。β放射源（如Kr-85）發(fā)射的粒子流穿透被測(cè)材料后，由探測(cè)器接收衰減后的射線強(qiáng)度。由于β粒子在材料中的吸收系數(shù)（μ）與密度（ρ）相關(guān)，當(dāng)基材密度恒定時(shí)，射線強(qiáng)度衰減量（ΔI）與鍍層/薄膜厚度（t）呈指數(shù)關(guān)系。例如，在鋰電池極片涂布工序中，β射線測(cè)厚儀可同步監(jiān)測(cè)基材面密度與烘干后極片面密度，通過標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定實(shí)現(xiàn)厚度值（0.1-2.2mm范圍）的實(shí)時(shí)換算，精度達(dá)±0.1μm。

　　反向散射式測(cè)量原理

　　針對(duì)薄鍍層（<2.5μm）或涂層檢測(cè)，β射線照射試樣后，部分粒子因康普頓散射效應(yīng)被反射至探測(cè)器。反射強(qiáng)度與鍍層原子序數(shù)、密度及厚度相關(guān)，尤其適用于貴金屬鍍層（如金、銀）或非金屬覆蓋層（如氧化鋁、氧化鋅）的測(cè)量。ISO3543-81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，基體與鍍層原子序數(shù)差需≥5以保障精度，例如銅基體鍍鎳層（原子序數(shù)差28-7=21）可滿足檢測(cè)條件。

　　技術(shù)優(yōu)勢(shì)與工業(yè)適配性

　　相較于X射線測(cè)厚儀，β射線設(shè)備因能量較低，更適合極薄材料（如0.8mm以下金屬帶材）的在線檢測(cè)，且放射源壽命長(zhǎng)達(dá)10年以上，維護(hù)成本低。其典型應(yīng)用場(chǎng)景包括：鋁板軋制中的厚度閉環(huán)控制、橡膠制品涂膠量監(jiān)測(cè)、電子元件銅箔/鋁箔厚度分選等。2025年推出的集成華為架構(gòu)軟件平臺(tái)的β射線測(cè)厚儀，已實(shí)現(xiàn)與MES系統(tǒng)直連，支持SPC統(tǒng)計(jì)分析與厚度數(shù)據(jù)閉環(huán)控制，顯著提升生產(chǎn)效率。